鍍層測(cè)厚儀是時(shí)代歐普公司新研發(fā)的新產(chǎn)品，是德國(guó)EPK/易高等同類(lèi)產(chǎn)品與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn)：　　　　

1. 測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍； 　　　

2. 精度高 ：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類(lèi).比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高； 　　　　

3. 穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性?xún)?yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品； 　　　　

4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測(cè)量方法。

使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

a 基體金屬特性

對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b 基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 邊緣效應(yīng)

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

d 曲率

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

e 讀數(shù)次數(shù)